측정 시스템ASML
YieldStar S-200B
측정 시스템
ASML
YieldStar S-200B
제조 연도
2011
상태
중고
위치
Dresden 

사진은 보여줍니다
지도 표시
기계 정보
가격 및 위치
- 위치:
- Heilbronner Str. 22, 01189 Dresden, Deutschland

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제안 세부 정보
- 광고 ID:
- A19967480
- 참조 번호:
- DV10125
- 업데이트:
- 마지막 업데이트: 10.09.2025
설명
Optical overlay metrology system, Advanced Semiconductor Materials Lithography stand-alone overlay metrology system for 300 mm wafers, YieldStar S 200B
Model: S200B
Type: YieldStar
Year of manufacture: 2011
Knsdpfexbnt Esx Ad Hof
Technical data:
Wafer size: 300 mm (12")
Laser source: LPPS, water cooling
General information:
The YSS200B is an optical overlay measurement system used for fast and highly precise measurement of overlay deviations on 300 mm wafers – typically for post-etch monitoring and production process control as a stand-alone system.
이 광고는 자동으로 번역되었습니다. 번역 오류가 있을 수 있습니다.
Model: S200B
Type: YieldStar
Year of manufacture: 2011
Knsdpfexbnt Esx Ad Hof
Technical data:
Wafer size: 300 mm (12")
Laser source: LPPS, water cooling
General information:
The YSS200B is an optical overlay measurement system used for fast and highly precise measurement of overlay deviations on 300 mm wafers – typically for post-etch monitoring and production process control as a stand-alone system.
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